南昌同兴达申请光轴测试方法专利，精准消除光轴偏差和像差_科技资讯

南昌同兴达申请光轴测试方法专利，精准消除光轴偏差和像差

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2024-10-28 17:21:13

金融界2024年10月28日消息，国家知识产权局信息显示，南昌同兴达精密光电有限公司申请一项名为“一种光轴测试方法”的专利，公开号CN 118817249 A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，本发明公开了一种光轴测试方法，涉及光轴测试技术领域。本发明包括建立光学测试系统，并在光学测试系统处设置光源，使激光束通过光学测试系统；在光学测试系统的不同位置安装多个光轴检测装置，实时监测光束的位置和形态。本发明通过变形镜和波前传感器，实时监测和调整激光束的波前信息，精准消除光轴偏差和像差，确保光束在传播过程中始终保持理想状态，最终实现高精度的光轴测试。本发明的方法不仅显著提高了光轴校准的精度和稳定性，还大幅提升了系统的自动化水平和操作便捷性，使其能够适应各种复杂光学系统的需求确保测试过程的高可靠性和效率。

来源：金融界

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