京东方A申请缺陷数据检测专利，可解决缺陷数据收集困难的问题_科技资讯

京东方A申请缺陷数据检测专利，可解决缺陷数据收集困难的问题

金融界

2024-04-08 02:17:32

金融界2024年4月6日消息，据国家知识产权局公告，京东方科技集团股份有限公司申请一项名为“缺陷数据检测的方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备“，公开号CN117828441A，申请日期为2024年1月。

专利摘要显示，本公开提供一种缺陷数据检测的方法、装置、可读存储介质及电子设备，属于智能制造技术领域，其可解决现有技术中由于缺陷数据发生概率比较低，导致缺陷数据样本的数量相对较少，进一步导致缺陷数据收集困难的问题。本公开的缺陷数据检测的方法包括获取检测设备上报至缺陷管理系统中的待处理数据，待处理数据包括良品数据和缺陷数据；将待处理数据输入到效用性网络模型中进行分类，输出分类结果，以根据分类结果得到缺陷数据，进行缺陷数据挖掘；其中，效用性网络模型是根据良品数据样本生成的。本公开可以只关注良品数据，而不关注缺陷数据，便可在海量的数据中捞出带有瑕疵的产品。

来源：金融界

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