金融界2024年1月16日消息,据国家知识产权局公告,上海华岭集成电路技术股份有限公司申请一项名为“ATE测试方法、ATE测试系统、电子设备及存储介质“,公开号CN117406063A,申请日期为2023年10月。
专利摘要显示,本发明提供一种ATE测试方法、ATE测试系统、电子设备及存储介质,包括:获取集成电路的数据输出的时钟频率;将ATE测试机的采样频率设置为所述时钟频率的至少二倍的预设倍数;调用设置完所述采样频率的所述ATE测试机对所述集成电路进行采样,以获取多个采样数据。如此设置,本发明采用多倍采样的方式,更密集地进行采样,这样便可以不依赖于采样频率与时钟频率的同步,在针对按时钟触发的数据的采样过程中,采样将更加精确。
来源:金融界